产品属性
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项目介绍
场发射扫描电子显微镜SEM,是一种用于高分辨形貌观察的大型精密仪器。SEM具有景深大、分辨率高, 成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。另外具有可测样品种类丰富, 几乎不损伤和污染原始样品以及可同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息等优点。目前, 扫描电子显微镜已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、司法、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究,
项目案例
强磁材料高倍20w倍形貌
Carbon 159(2020)366-377:GF/FeS2@C形貌
金属掺杂改性材料线扫图谱结果
铜掺杂改性材料点扫图谱结果
非磁材料形貌
非磁性材料微球状形貌
强磁材料形貌
磁性材料形貌
样品要求
1.如提供TEM的形貌图片,无参考意义;
2.块体、片状、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm;粉末样品大于10mg;
3.块体、片状、薄膜样品请标注测试面;粉末不能测试线扫;
4.含水样品请自行干燥后送样;
5.需备注照片倍数;每个样最多10张,需要张数请备注;
6.能谱备注理想区域,如有标尺要求请备注,如果没有备注,常规测试;
7.1-4号元素不能测试能谱;BCNOF等超轻元素能谱测试不准,望知晓;
8.图片不再区分最小标尺,最高倍数20万倍,取消500nm和100nm的区别;
9.送样请先检测磁性并如实告知,因为磁性未说明损伤仪器,需要承担维修费用;
10.关于冷场热场,下单请注明,无说明,随机安排;
11.能谱图上会有文字,不要文字的需要自己处理;
12.若有预期的形貌和标尺、放大倍数,最好在订单中以文字说明;
13.一些仪器由于软件限制,一些标尺无法输出;
14.能谱说明:点扫、线扫、面扫分别按照一个点、一条线、一个面计费,仅提供一张形貌图,并只用于展示测试位置。多个能谱按照个数计费。
常见问题
喷金工序一般适用于样品不导电或者说是导电性不好的时候对样品表面溅射一层薄薄的金层,喷金时间因仪器差别而有所不同。喷金最直观的目的就是图片质量上去了,倍数能更好了,其原理是减弱了不导电或者导电性弱的样品表面的荷电效应,主要的影响是较高倍数(20万倍)下能看到些样品表面的金颗粒,EDS能谱中有明显的金峰存在。
上述问题也就是荷电效应造成的,电荷在样品表面累积产生静电场,干扰入射电子的发射,从而对图片质量造成影响。主要解决办法:①喷金、喷铂、喷银或者喷碳,②缩小样品尺寸,减少接触电阻。
上述问题主要是不同实验室老师的习惯不同,对明暗的把控也不相同。这种问题一般的很好处理,简单用PPT软件处理图片的亮度,对比度,亮度就可以。
有三种,点扫,线扫,面扫(mapping),点扫:像素点下的一个元素组成和元素相对含量情况,线扫:路径上面的一个元素相对强度的变化情况。面扫(mapping):元素在视野范围内的一个分布情况。
有以下几种可能:①样品喷过金,峰是金峰;②可能是样品里面其他元素未关注的峰;③也可能是引入了杂质(可能性较小)。
核外电子跃迁类型不同,或者说满足跃迁选律(指电子层 KLMN)的不止一种,每一种对应一个能量。
不清楚导电性的样品,没有特殊要求一律建议喷金。比较迷惑的样品是金属氧化物,这类样品看起来导电性还行但是基本上导电性都很差,都需要喷金。
粉末要求几毫克就够的,固体理想尺寸1*1cm厚度0.5cm以下,长宽厚极限尺寸3*3*0.5cm。
没有一个准确的对应关系,各仪器软件的对应各不相同,主要取决于仪器软件,给要求的时候只能限制一个关系。
横坐标是能量energy/kev,纵坐标是计数counts/cps。
好评度 | 商品满意度 | 服务满意度 | 发货满意度 |
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