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DeepBio得分:5567.2
DeepBio得分
是基于文献引用次数，影响因子，文献新近度等因素计算的客观产品评级，得分越高表明该产品经过越可靠的实验验证，质量可信度越高
聚焦离子束（focused ion beam, FIB）技术是在电场和磁场的作用下，将离子束聚焦到亚微米甚至纳米量级，通过偏转和加速系统控制离子束扫描运动，实现微纳图形的监测分析和微纳结构的无掩模加工。
可提供的服务：
1. TEM透射样品制备：针对表面薄膜、涂层、粉末大颗粒、块体等样品，在指定位置准确定位切割制备TEM样品；
2. SEM/EDS剖面分析：FIB准确定位切割，制备截面样品，进行SEM和EDS能谱分析；
3. 微纳结构加工：在微纳结构操作机械手、Omniprobe操作探针、离子束切割等的配合下，进行各种微纳结构的搬运，以及各种显微结构形状或图案的加工。
透射电镜（TEM）测试
1. 主要用于无机材料（粉体）微结构与微区组成的分析和研究，不适用于有机和生物材料；
2. 表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等；
3. 成像：衍衬像、高分辨像（HRTEM）、扫描透射像；
4. 微区成分： EDS 能谱的点、线和面分析，电子选区衍射。
| 好评度 | 商品满意度 | 服务满意度 | 发货满意度 |
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