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DeepBio得分:5567.2
DeepBio得分
是基于文献引用次数，影响因子，文献新近度等因素计算的客观产品评级，得分越高表明该产品经过越可靠的实验验证，质量可信度越高
聚焦离子束（focused ion beam, FIB）技术是在电场和磁场的作用下，将离子束聚焦到亚微米甚至纳米量级，通过偏转和加速系统控制离子束扫描运动，实现微纳图形的监测分析和微纳结构的无掩模加工。
可提供的服务：
1. TEM透射样品制备：针对表面薄膜、涂层、粉末大颗粒、块体等样品，在指定位置准确定位切割制备TEM样品；
2. SEM/EDS剖面分析：FIB准确定位切割，制备截面样品，进行SEM和EDS能谱分析；
3. 微纳结构加工：在微纳结构操作机械手、Omniprobe操作探针、离子束切割等的配合下，进行各种微纳结构的搬运，以及各种显微结构形状或图案的加工。
1. 粉末样品：样品尺寸至少为5μm以上，且无磁性；
2. 薄膜/块体样品：最大尺寸不超过2cm，高度不超过3mm，可以有磁性，但强磁样品应尽可能减小尺寸；
3. 在送样前，请通过扫描电子显微镜（SEM）确认样品满足FIB制样的要求；
4. 按照样品个数计费，加工成品大小一般不超过长度 5μm*深度 5μm；如果样品需要加工更大尺寸，请在下单前联系技术经理进行评估和议价；
5. 样品应具有良好的导电性，如果导电性比较差，需要进行喷金或喷碳处理
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