X射线光电子能谱仪（XPS）测试

科研综合服务平台

购物车（0）

常用商品分类

分类纠错

https://cdn.casmart.com.cn/productImage/300041597/67942/ce3650f4d65a5f88f2d7b8e85201a064.jpg

纠错

X射线光电子能谱仪（XPS）测试

登录可见

货号：BH-04

品牌：科学指南针

计量单位：次

交货周期

：7

选择规格：能谱

运杂费：登录后可查看运杂费

服务电话(移)：17319309550

DeepBio得分:5567.2

DeepBio得分是基于文献引用次数，影响因子，文献新近度等因素计算的客观产品评级，得分越高表明该产品经过越可靠的实验验证，质量可信度越高

产品详情

XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，从峰强可获得样品表面元素含量或浓度。

一般有以下几个方面的应用：

1、元素组成分析

对于未知样品，首先进行全谱扫描，初步判断样品表面的元素组成；然后根据全谱扫描确定目标元素的窄区扫描能量范围，对其进行高分辨细扫描，从而获得其准确的结合能位置。

2、化学态分析

XPS 可通过测定内层电子的化学位移来推知原子的结合状态和电子分布状态等信息。

3、半定量分析

XPS 不仅可用于定性分析（元素组成及化学态分析），由于其峰强度与元素含量之间具有一定的相关性，通过测量光电子峰的强度还可以对元素进行定量分析，目前而言只将 XPS 用于元素的半定量分析。

4、深度剖析

通过氩离子枪溅射、机械切削以及改变掠射角等方式可以实现 XPS 的深度剖析，从而对一定深度范围内的薄层剖面进行元素组成和化学态分析，可提供材料的均匀性及元素的空间分布等信息。

好评度	商品满意度	服务满意度	发货满意度