超长焦显微系统采用MAKSUTOV-CASSEGRAIN折反射原理彻底突破显微镜的光学固有限制。可以在0.2米-2米之内得到样品的大景深图像。彻底解决传统光学系统大倍数与大工作距离不能共存的问题。可以轻松的对样品不同状态进行优质成像,得到平面优质图片,并通过测量模式,准确测量二维空间尺寸。是光学显微技术的最新发展.将极大提高我国科研、教学、试验、生产的过程检测水平
系统参数:
□ 工作距离(W.D):200mm------- 2000mm
□ 视场范围(FOV):0.65mmx0.4mm -- 6mmx4mm
□ 最小视角:0.7°
□ 最高分辨率: 3.5um (200mm工作距离) 视场大小 1MM)
7um (500mm工作距离 视场大小 1.5MM)
15um (1000mm工作距离) 视场大小 3MM)
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