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DeepBio得分:5567.2
DeepBio得分
是基于文献引用次数，影响因子，文献新近度等因素计算的客观产品评级，得分越高表明该产品经过越可靠的实验验证，质量可信度越高
项目介绍
X射线光电子能谱法是一种表面分析方法，提供的是样品表面的元素含量与形态。
如果辅以离子刻蚀手段，再利用XPS作为分析方法，则可以实现对样品的深度分析。
一、XPS的特点
1. 可以分析除 H 和 He 以外的所有元素；
2. 提供有关化学键方面的信息，即直接测量价层电子及内层电子轨道能级；
3. 是一种高灵敏超微量的表面分析技术，分析所需试样量极少，样品分析深度为0.5-10nm 。
二、XPS的应用
1. 元素定性分析
2. 元素半定量分折
3. 固体表面分析
4. 化合物结构鉴定
样品要求
1. 预处理尺寸要求：块体/片状/薄膜：长宽厚不超出1 × 1 × 0.3 cm（磁性样品尽量小）（对块状样品或薄膜样品的测试面做好标记）；粉末样品大于200目，不少于10mg，量少的请用称量纸包好再装到管子里寄。请勿用手触摸样品表面，会引入污染；制好样后请尽快密封，避免其他物质污染；
2. 送样前样品需充分干燥，否则影响仪器真空度；高分子样品在送样前应进行干燥处理；若含有高挥发性分子等，请务必烘烤；
3. 样品含有硫或碘等卤族元素请务必填写或者提前告知，避免污染高真空系统；
4. 样品在超高真空及在X射线、紫外线、电子束或Ar离子束照射下应稳定，不分解、不释放气体。
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