项目介绍
场发射扫描电子显微镜(SEM),是一种用于高分辨形貌观察的大型精密仪器。它具有大景深、高分辨率、成像直观、立体感强、放大倍数范围宽,以及待测样品可在三维空间内旋转和倾斜等特点。此外,SEM的优势还包括可测样品种类丰富、几乎不损伤和污染原始样品,以及可同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息等。目前,扫描电子显微镜已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、司法、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究。
样品要求
1. 如提供TEM的形貌图片,无参考意义;
2. 块体、片状、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm;粉末样品大于10mg;
3. 块体、片状、薄膜样品请标注测试面;粉末不能测试线扫;
4. 含水样品请自行干燥后送样;
5. 需备注照片倍数;每个样最多10张,需要张数请备注;
6. 能谱备注理想区域,如有标尺要求请备注,如果没有备注,常规测试;
7.1-4号元素不能测试能谱;BCNOF等超轻元素能谱测试不准,望知晓;
8. 图片不再区分最小标尺,最高倍数20万倍,取消500nm和100nm的区别;
9. 送样请先检测磁性并如实告知,因为磁性未说明而损伤仪器,需要承担维修费用;
10. 关于冷场热场,下单请注明,无说明的,则随机安排;
11. 能谱图上会有文字,不要文字的需要自己处理;
12. 若有预期的形貌和标尺、放大倍数,最好在订单中以文字说明;
13. 一些仪器由于软件限制,一些标尺无法输出;
14. 能谱说明:点扫、线扫、面扫分别按照一个点、一条线、一个面计费,仅提供一张形貌图,并只用于展示测试位置。多个能谱按照个数计费。
好评度 | 商品满意度 | 服务满意度 | 发货满意度 |
"SEM(形貌+线扫)测试服务"商品可能已被商家删除,您可查看其他相似商品!
相似产品推荐