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DeepBio得分:5567.2
DeepBio得分
是基于文献引用次数，影响因子，文献新近度等因素计算的客观产品评级，得分越高表明该产品经过越可靠的实验验证，质量可信度越高
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）：是一种可以用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小针尖，使之与样品表面轻轻接触。由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，会使悬臂发生微小的偏转。通过检测出偏转量并作用反馈控制其排斥力的恒定，就可以获得微悬臂对应于各点的位置变化，从而获得样品表面形貌的图像。
成像模式：
1. 接触模式：针尖与样品表面距离小，利用原子间的斥力；可获得高解析度图像；样品变形，针尖受损；不适合于表面柔软的材料；
2. 非接触模式：针尖距离样品5-20nm,利用原子间的吸引力，不损伤样品表面，可测试表面柔软样品；分辨率低，有误判现象；
3. 轻敲模式：探针在Z轴维持固定频率振动，当振动到谷底时与样品接触，对样品破坏小，分辨率几乎同接触模式相同。
1. 薄膜样品，尺寸不大于50*50*5mm（请备注好测试面）；
2. 粉末样品，质量不少于10mg；
3. 液体样品，体积不小于1ml（浓度不确定，可以加送溶剂空白样，进行测试前稀释）；
4. C-AFM PFM KPFM 都要求导电；
5. 提供明确的测试要求（常规20X20um以内的测试区域就可以）最好能上传参考形貌并且打印随样品寄出；
6. AFM云现场按测试时间收费，普通项目550/小时，特殊项目850元/小时收费。不足半小时按半小时计算；
7. 如果测试区域在1*1um以下，需要具体沟通。
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