场发射扫描电子显微镜(SEM),是一种用于高分辨形貌观察的大型精密仪器。
SEM具有大景深、高分辨率、成像直观、立体感强、放大倍数范围宽,以及待测样品可在三维空间内旋转和倾斜等特点。
另外,它具有可测样品种类丰富、几乎不损伤和污染原始样品,以及可同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息等优点。
目前,扫描电子显微镜已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、司法、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究。
SEM云现场/现场,实现了实时沟通,精准选区,高效快捷等多功能测试。为广大客户节省了时间,也为科研创造了更高的价值。
样品要求
1. 样品大小要求:块体、片状、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm,其他尺寸先咨询;粉末样品大于10mg;
2. 块体、片状、薄膜样品请标注测试面;粉末不能测试线扫;
3. 含水样品请自行干燥后送样;
4. 请注明照片倍数;
5. 制样方式提前注明;
6. 其他要求可测试时说明。
好评度 | 商品满意度 | 服务满意度 | 发货满意度 |
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