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技术指标
l X射线发生器功率:3KW，Cu靶，具有CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路
l 测角仪为θ/θ测角仪，样品水平放置不动，测角仪最小步进为1/10000度
l θs/θd联动时，角度测量范围为-3°~160°
l 配备半导体阵列探测器，能量分辨率≦20%，可进行高能量分辨测试。
功能及特性
l 粉末样品的物相定性与定量分析，以及微区样品的分析
l 计算结晶化度、晶粒大小
l 确定晶系、畸变
l Rietveld 定量分析
技术指标
l X射线发生器功率:3KW，Cu靶，具有CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路
l 测角仪为θ/θ测角仪，样品水平放置不动，测角仪最小步进为1/10000度
l θs/θd联动时，角度测量范围为-3°~160°
l 配备半导体阵列探测器，能量分辨率≦20%，可进行高能量分辨测试。
功能及特性
l 粉末样品的物相定性与定量分析，以及微区样品的分析
l 计算结晶化度、晶粒大小
l 确定晶系、畸变
l Rietveld 定量分析
