TEM测试是一种高分辨率的电子显微镜技术,用于观察材料的微观结构和成分。TEM测试的目的可以有很多,常见的测试目的有以下几种情况:
1、观察材料的晶体结构:TEM可以通过电子衍射技术观察材料的晶体结构,包括晶格常数、晶体取向和晶体缺陷等信息。
2、分析材料的成分:TEM可以通过能谱分析技术(EDS)或电子能量损失谱(EELS)分析材料的成分,包括元素的种类和含量。
3、研究材料的形貌和尺寸:TEM可以观察材料的形貌和尺寸,包括颗粒的形状、大小和分布等信息。
4、研究材料的界面和界面反应:TEM可以观察材料的界面结构和界面反应,包括晶界、相界和界面反应产物等。