场发射扫描电子显微镜(SEM),是一种用于高分辨形貌观察的大型精密仪器。它具有大景深、高分辨率、成像直观、立体感强、放大倍数范围宽,以及待测样品可在三维空间内旋转和倾斜等特点。此外,SEM的优势还包括可测样品种类丰富、几乎不损伤和污染原始样品,以及可同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息等。目前,扫描电子显微镜已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、司法、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究。
1. 如提供TEM的形貌图片,无参考意义;
2. 块体、片状、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm;粉末样品大于10mg;
3. 块体、片状、薄膜样品请标注测试面;粉末不能测试线扫;
4. 含水样品请自行干燥后送样;
5. 需备注照片倍数;每个样最多10张,需要张数请备注;
6. 能谱备注理想区域,如有标尺要求请备注,如果没有备注,常规测试;
7. 1-4号元素不能测试能谱;BCNOF等超轻元素能谱测试不准,望知晓。
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